A customized acutance metric for quality control applications in MRI.

Venuji Renuka, Simi; Edla, Damodar Reddy; Joseph, Justin

Venuji Renuka, Simi; Edla, Damodar Reddy; Joseph, Justin.

Afiliação

Venuji Renuka S; School of Computer Science and Engineering, VIT Bhopal University, Bhopal, 466114, India. simikailas13@gmail.com.
Edla DR; School of Computer Science and Engineering, VIT Bhopal University, Bhopal, 466114, India.
Joseph J; School of Bioengineering, VIT University, Bhopal, 466114, India.

Med Biol Eng Comput ; 60(5): 1511-1525, 2022 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-35320457

Assuntos

Algoritmos; Imageamento por Ressonância Magnética; Controle de Qualidade

Palavras-chave

Acutance; Blur metric; Edge quality index; Image sharpness; Unsharp masking

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Algoritmos / Imageamento por Ressonância Magnética Idioma: En Ano de publicação: 2022 Tipo de documento: Article

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