Threshold and Trend Artifacts in Localized Multi-Frequency Bioimpedance Measurements.

Freeborn, Todd J; Critcher, Shelby

Freeborn, Todd J; Critcher, Shelby.

Afiliação

Freeborn TJ; Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alabama, Tuscaloosa, AL 35404 USA.
Critcher S; Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alabama, Tuscaloosa, AL 35404 USA.

Proc IFAC World Congress ; 54(15): 55-60, 2021.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37097809

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https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC10122868
https://dx.doi.org/10.1016/j.ifacol.2021.10.231

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article

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