Evaluation of Microlenses, Color Filters, and Polarizing Filters in CIS for Space Applications.
Sensors (Basel)
; 23(13)2023 Jun 25.
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em En
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| ID: mdl-37447732
Palavras-chave
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1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
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Assunto principal:
Semicondutores
/
Diagnóstico por Imagem
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2023
Tipo de documento:
Article