Using Focused Ion Beam Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry to Depth Profile Nanoparticles in Polymer Nanocomposites.
Microsc Microanal
; 29(5): 1557-1565, 2023 Sep 29.
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2023
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Article