X-ray photoelectron-diffraction study of intermixing and morphology at the Ge/Si(001) and Ge/Sb/Si(001) interface.
Phys Rev B Condens Matter
; 54(12): 8882-8891, 1996 Sep 15.
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em En
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| ID: mdl-9984569
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Idioma:
En
Ano de publicação:
1996
Tipo de documento:
Article