Your browser doesn't support javascript.
loading
A New Analytic Formula for Minority Carrier Decay Length Extraction from Scanning Photocurrent Profiles in Ohmic-Contact Nanowire Devices.
Chu, Cheng-Hao; Mao, Ming-Hua; Yang, Che-Wei; Lin, Hao-Hsiung.
Afiliação
  • Chu CH; Graduate Institute of Electronics Engineering, National Taiwan University, No. 1, Roosevelt Rd. Sec. 4, Taipei, 10617, Taiwan.
  • Mao MH; Graduate Institute of Electronics Engineering, National Taiwan University, No. 1, Roosevelt Rd. Sec. 4, Taipei, 10617, Taiwan. mhmao@ntu.edu.tw.
  • Yang CW; Department of Electrical Engineering, National Taiwan University, No. 1, Roosevelt Rd. Sec. 4, Taipei, 10617, Taiwan. mhmao@ntu.edu.tw.
  • Lin HH; Graduate Institute of Photonics and Optoelectronics, National Taiwan University, No. 1, Roosevelt Rd. Sec. 4, Taipei, 10617, Taiwan. mhmao@ntu.edu.tw.
Sci Rep ; 9(1): 9426, 2019 Jul 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31263209

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Sci Rep Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article País de afiliação: Taiwan País de publicação: Reino Unido

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Sci Rep Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article País de afiliação: Taiwan País de publicação: Reino Unido