A New Analytic Formula for Minority Carrier Decay Length Extraction from Scanning Photocurrent Profiles in Ohmic-Contact Nanowire Devices.
Sci Rep
; 9(1): 9426, 2019 Jul 01.
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em En
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MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Sci Rep
Ano de publicação:
2019
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Article
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Taiwan
País de publicação:
Reino Unido