Long-working-distance incoherent-light interference microscope.

Sinclair, Michael B; de Boer, Maarten P; Corwin, Alex D

Sinclair, Michael B; de Boer, Maarten P; Corwin, Alex D.

Afiliación

Sinclair MB; Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA.

Appl Opt ; 44(36): 7714-21, 2005 Dec 20.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-16381517

Asunto(s)

Aumento de la Imagen/instrumentación; Microscopía de Interferencia/instrumentación; Tomografía de Coherencia Óptica/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Aumento de la Imagen/métodos; Microscopía de Interferencia/métodos; Tomografía de Coherencia Óptica/métodos

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Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Aumento de la Imagen / Tomografía de Coherencia Óptica / Microscopía de Interferencia Tipo de estudio: Evaluation_studies Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2005 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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