Molecular electronics at metal/semiconductor junctions. Si inversion by sub-nanometer molecular films.

Yaffe, Omer; Scheres, Luc; Puniredd, Sreenivasa Reddy; Stein, Nir; Biller, Ariel; Lavan, Rotem Har; Shpaisman, Hagay; Zuilhof, Han; Haick, Hossam; Cahen, David; Vilan, Ayelet

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Molecular electronics at metal/semiconductor junctions. Si inversion by sub-nanometer molecular films.

Yaffe, Omer; Scheres, Luc; Puniredd, Sreenivasa Reddy; Stein, Nir; Biller, Ariel; Lavan, Rotem Har; Shpaisman, Hagay; Zuilhof, Han; Haick, Hossam; Cahen, David; Vilan, Ayelet.

Afiliación

Yaffe O; Department of Materials & Interfaces, Weizmann Institute of Science, Rehovot 76100, Israel.

Nano Lett ; 9(6): 2390-4, 2009 Jun.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19438192

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Israel

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