Determination of effective tip geometries in Kelvin probe force microscopy on thin insulating films on metals. | Nanotechnology;20(26): 264016, 2009 Jul 01. | MEDLINE

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Determination of effective tip geometries in Kelvin probe force microscopy on thin insulating films on metals.

Glatzel, Th; Zimmerli, L; Koch, S; Such, B; Kawai, S; Meyer, E.

Afiliación

Glatzel T; Department of Physics, University of Basel, Klingelbergstrasse 82, CH-4056 Basel, Switzerland. thilo.glatzel@unibas.ch

Nanotechnology ; 20(26): 264016, 2009 Jul 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19509456

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Suiza

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