Characterization of silicon nanowire by use of full-vectorial finite element method.

Kejalakshmy, N; Agrawal, Arti; Aden, Yasin; Leung, D M H; Rahman, B M A; Grattan, K T V

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

BVS CLAP/SMR-OPS/OMS

Centro Latinoamericano de Perinatología, Salud de la Mujer y Reproductiva

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada

Characterization of silicon nanowire by use of full-vectorial finite element method.

Kejalakshmy, N; Agrawal, Arti; Aden, Yasin; Leung, D M H; Rahman, B M A; Grattan, K T V.

Afiliación

Kejalakshmy N; School of Engineering and Mathematical Sciences, Northampton Square, London EC1V 0HB, UK.

Appl Opt ; 49(16): 3173-81, 2010 Jun 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20517388

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido