Planar waveguides with less than 0.1 dB/m propagation loss fabricated with wafer bonding.

Bauters, Jared F; Heck, Martijn J R; John, Demis D; Barton, Jonathon S; Bruinink, Christiaan M; Leinse, Arne; Heideman, René G; Blumenthal, Daniel J; Bowers, John E

Bauters, Jared F; Heck, Martijn J R; John, Demis D; Barton, Jonathon S; Bruinink, Christiaan M; Leinse, Arne; Heideman, René G; Blumenthal, Daniel J; Bowers, John E.

Afiliación

Bauters JF; Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Santa Barbara, CA 93106, USA. jbauters@ece.ucsb.edu

Opt Express ; 19(24): 24090-101, 2011 Nov 21.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22109434

Asunto(s)

Refractometría/instrumentación; Dióxido de Silicio/química; Resonancia por Plasmón de Superficie/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Luz; Dispersión de Radiación

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Dióxido de Silicio / Resonancia por Plasmón de Superficie Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2011 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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