Use of atomic force microscopy (AFM) to explore cell wall properties and response to stress in the yeast Saccharomyces cerevisiae.

Francois, Jean Marie; Formosa, Cécile; Schiavone, Marion; Pillet, Flavien; Martin-Yken, Hélène; Dague, Etienne

Francois, Jean Marie; Formosa, Cécile; Schiavone, Marion; Pillet, Flavien; Martin-Yken, Hélène; Dague, Etienne.

Afiliación

Francois JM; Université de Toulouse, INSA, UPS, INP, 135 avenue de Rangueil, 31077, Toulouse, France, fran_jm@insa-toulouse.fr.

Curr Genet ; 59(4): 187-96, 2013 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24071902

Asunto(s)

Pared Celular/fisiología; Pared Celular/ultraestructura; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Modelos Biológicos; Saccharomyces cerevisiae/citología; Estrés Fisiológico/fisiología; Fenómenos Biomecánicos/fisiología; Pared Celular/química; Células Inmovilizadas/microbiología; Saccharomyces cerevisiae/fisiología

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Saccharomyces cerevisiae / Estrés Fisiológico / Pared Celular / Microscopía de Fuerza Atómica / Modelos Biológicos Idioma: En Revista: Curr Genet Año: 2013 Tipo del documento: Article

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