In situ synchrotron X-ray diffraction analysis of deformation behaviour in Ti-Ni-based thin films.
J Synchrotron Radiat
; 22(1): 34-41, 2015 Jan.
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| ID: mdl-25537586
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Banco de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
J Synchrotron Radiat
Asunto de la revista:
RADIOLOGIA
Año:
2015
Tipo del documento:
Article