Ultrahigh quality factor in a metal-embedded semiconductor microdisk cavity. | Opt Lett;40(24): 5766-9, 2015 Dec 15. | MEDLINE

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Ultrahigh quality factor in a metal-embedded semiconductor microdisk cavity.

Kurosawa, Hiroyuki; Kumano, Hidekazu; Suemune, Ikuo.

Opt Lett ; 40(24): 5766-9, 2015 Dec 15.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26670507

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Año: 2015 Tipo del documento: Article

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