Surface sensitivity of four-probe STM resistivity measurements of bulk ZnO correlated to XPS. | J Phys Condens Matter;29(38): 384001, 2017 Sep 27. | MEDLINE

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Centro Latinoamericano de Perinatología, Salud de la Mujer y Reproductiva

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Surface sensitivity of four-probe STM resistivity measurements of bulk ZnO correlated to XPS.

Lord, Alex M; Evans, Jonathan E; Barnett, Chris J; Allen, Martin W; Barron, Andrew R; Wilks, Steve P.

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Lord AM; Centre for NanoHealth, College of Engineering, University of Swansea, Singleton Park, SA2 8PP, United Kingdom.

J Phys Condens Matter ; 29(38): 384001, 2017 Sep 27.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-28678024

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: J Phys Condens Matter Asunto de la revista: BIOFISICA Año: 2017 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido

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