<i>inserexs</i>: reflection choice software for resonant elastic X-ray scattering. | J Appl Crystallogr;56(Pt 3): 854-859, 2023 Jun 01. | MEDLINE

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inserexs: reflection choice software for resonant elastic X-ray scattering.

Peña Corredor, Antonio; Viart, Nathalie; Lefevre, Christophe.

Afiliación

Peña Corredor A; Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS, UMR 7504, 23 rue du Loess, Strasbourg 67200, France.
Viart N; Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS, UMR 7504, 23 rue du Loess, Strasbourg 67200, France.
Lefevre C; Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS, UMR 7504, 23 rue du Loess, Strasbourg 67200, France.

J Appl Crystallogr ; 56(Pt 3): 854-859, 2023 Jun 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37284260

Palabras clave

EXAFS; REXS; atomic occupancies; atomic positions; inserexs; resonant elastic X-ray scattering; thin films

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Appl Crystallogr Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

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