Les moulages en orthopedie dento-faciale: apport en informatique

Etant un element incontournable de la demarche diagnostique en orthopedie dento-faciale; et par consequence de la decision therapeutique et du plan de traitement; les moulages orthodontiques resteront toujours un precieux document du dossier d'un patient. Depuis plusieurs annees; la technologie numerique a ete introduite en orthodontie; d'abord avec la photographie; ensuite avec la radiologie et; plus recemment avec les moulages. Les resultats diagnostiques; offerts par les logiciels de traitement des moulages numerises; peuvent etre plus precis que ceux obtenus par des examens conventionnels sur des modeles en platre; et surtout avec une manipulation simplifiee et rapide

Extreme UV and x-ray scattering measurements from a rough LiF crystal surface characterized by electron micrography.

XUV and x-ray scattering by a LiF crystal is measured. The angular distribution of the scattered radiation (ADSR) reveals characteristic features, side peaks or asymmetry. The surface of the sample is statistically characterized by a microdensitometer analysis of electron micrographs resolving the short spatial wavelengths of the surface roughness. This analysis shows that the surface has a large microroughness with an autocovariance function which is Gaussian in its initial portion. The first-order perturbation vector theory of the roughness-induced scattering leads to an interpretation of the ADSR features in terms of the modulation of the surface power spectral density function associated with the microroughness by an optical factor. The possibility of obtaining short scale roughness characterization from XUV or x-ray measurements is discussed.