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Opt Lett ; 38(19): 3704-7, 2013 Oct 01.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-24081031

RESUMO

The change in phase of the free space terahertz (THz) electric field as a sample of material introduced into the THz beampath of a CW THz system is measured and used to calculate the index of refraction of materials at 250 GHz.

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