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ACS Nano ; 2(8): 1615-9, 2008 Aug.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-19206363

RESUMO

"Natural" lithography was used to prepare arrays of nanoscale capacitors on silicon. The capacitance was verified by a novel technique based on the interaction of a charged substrate with the electron beam of a scanning electron microscope. The "nanocapacitors" possessed a capacitance of approximately 1 x 10(-16) F and were observed to hold charge for over an hour. Our results indicate that fabricating nanostructures using natural lithography may provide a viable alternative for future nanoelectronic devices.


Assuntos
Cristalização/métodos , Capacitância Elétrica , Eletrônica/instrumentação , Nanoestruturas/química , Nanotecnologia/instrumentação , Desenho de Equipamento , Análise de Falha de Equipamento , Substâncias Macromoleculares/química , Teste de Materiais , Conformação Molecular , Nanoestruturas/ultraestrutura , Nanotecnologia/métodos , Tamanho da Partícula , Propriedades de Superfície
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