Semiconductor surface roughness: Dependence on sign and magnitude of bulk strain. | Phys Rev Lett;73(22): 3006-3009, 1994 Nov 28. | MEDLINE

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Semiconductor surface roughness: Dependence on sign and magnitude of bulk strain.

Xie YH; Gilmer GH; Roland C; Silverman PJ; Buratto SK; Cheng JY; Fitzgerald EA; Kortan AR; Schuppler S; Marcus MA; Citrin PH.

Phys Rev Lett ; 73(22): 3006-3009, 1994 Nov 28.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-10057258

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Ano de publicação: 1994 Tipo de documento: Article

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