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Mechanical property measurements of nanoscale structures using an atomic force microscope.
Sundararajan, Sriram; Bhushan, Bharat; Namazu, Takahiro; Isono, Yoshitada.
Afiliação
  • Sundararajan S; Department of Mechanical Engineering, The Ohio State University, Columbus 43210-1107, USA.
Ultramicroscopy ; 91(1-4): 111-8, 2002 May.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12211458
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2002 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Holanda
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