Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films.
J Synchrotron Radiat
; 10(Pt 2): 137-43, 2003 Mar 01.
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em En
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| ID: mdl-12606791
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Idioma:
En
Revista:
J Synchrotron Radiat
Assunto da revista:
RADIOLOGIA
Ano de publicação:
2003
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Estados Unidos