Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films. | J Synchrotron Radiat;10(Pt 2): 137-43, 2003 Mar 01. | MEDLINE

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Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films.

Tamura, N; MacDowell, A A; Spolenak, R; Valek, B C; Bravman, J C; Brown, W L; Celestre, R S; Padmore, H A; Batterman, B W; Patel, J R.

Afiliação

Tamura N; ALS/LBL, 1 Cyclotron Road, Berkeley, CA 94720, USA. ntamura@lbl.gov

J Synchrotron Radiat ; 10(Pt 2): 137-43, 2003 Mar 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12606791

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Assunto da revista: RADIOLOGIA Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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