Charge-related problems associated with X-ray microanalysis in the variable pressure scanning electron microscope at low pressures.

Griffin, Brendan J; Suvorova, Alexandra A

Griffin, Brendan J; Suvorova, Alexandra A.

Afiliação

Griffin BJ; Centre for Microscopy and Microanalysis, The University of Western Australia, Crawley, Western Australia, 6009, Australia. bjg@cmm.uwa.edu.au

Microsc Microanal ; 9(2): 155-65, 2003 Apr.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12639242

Assuntos

Microanálise por Sonda Eletrônica/métodos; Microscopia Eletrônica de Varredura/métodos; Microanálise por Sonda Eletrônica/instrumentação; Elétrons; Gases; Microscopia Eletrônica de Varredura/instrumentação; Minerais/análise; Vácuo

Buscar no Google

Adicionar na Minha BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Varredura / Microanálise por Sonda Eletrônica Tipo de estudo: Risk_factors_studies Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article País de afiliação: Austrália País de publicação: Reino Unido

Buscar no Google

Adicionar na Minha BVS

Imprimir

XML

PubMed Links