Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies.

Scheu, C; Gao, M; Van Benthem, K; Tsukimoto, S; Schmidt, S; Sigle, W; Richter, G; Thomas, J

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Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies.

Scheu, C; Gao, M; Van Benthem, K; Tsukimoto, S; Schmidt, S; Sigle, W; Richter, G; Thomas, J.

Afiliação

Scheu C; Max-Planck-Institut für Metallforschung, Heisenbergstr. 3, Stuttgart 70569, Germany. scheu@hrem.mpi-stuttgart.mpg.de

J Microsc ; 210(Pt 1): 16-24, 2003 Apr.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12694412

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha País de publicação: Reino Unido

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