Shear force control for a terahertz near field microscope.

Buersgens, F; Acuna, G; Lang, C H; Potrebic, S I; Manus, S; Kersting, R

Buersgens, F; Acuna, G; Lang, C H; Potrebic, S I; Manus, S; Kersting, R.

Afiliação

Buersgens F; Photonics and Optoelectronics Group, University of Munich, Amalienstr. 54, 80799 Munich, Germany.

Rev Sci Instrum ; 78(11): 113701, 2007 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18052474

ABSTRACT

ABSTRACT

We report on the advancement of apertureless terahertz microscopy by active shear force control of the scanning probe. Extreme subwavelength spatial resolution and a maximized image contrast are achieved by maintaining a tip-surface distance of about 20 nm. The constant distance between scanning tip and surface results in terahertz images that mirror the dielectric permittivity of the surface.

Assuntos

Aumento da Imagem/instrumentação; Raios Infravermelhos; Microscopia de Varredura por Sonda/instrumentação; Micro-Ondas; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Retroalimentação; Aumento da Imagem/métodos; Microscopia de Varredura por Sonda/métodos; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade; Resistência ao Cisalhamento

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Aumento da Imagem / Microscopia de Varredura por Sonda / Raios Infravermelhos / Micro-Ondas Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha

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