Development of attenuated total reflection based compression modulation step-scan Fourier transform infrared spectroscopy and its applications to rheo-spectral characterizations of polymer films. | Appl Spectrosc;58(8): 958-68, 2004 Aug. | MEDLINE

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Development of attenuated total reflection based compression modulation step-scan Fourier transform infrared spectroscopy and its applications to rheo-spectral characterizations of polymer films.

Nishikawa, Yuji; Nakano, Tatsuhiko; Miyauchi, Hiroshi; Nishikida, Koichi; Jiang, Eric Y.

Afiliação

Nishikawa Y; Material Analysis Division, Material Technology R&D Laboratories, Konica Minolta Technology Center Inc., No.1 Sakura-machi, Hino-shi, Tokyo, 191-8511, Japan.

Appl Spectrosc ; 58(8): 958-68, 2004 Aug.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18070389

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Spectrosc Ano de publicação: 2004 Tipo de documento: Article País de afiliação: Japão País de publicação: Estados Unidos

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