High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction. | Microsc Microanal;14(1): 60-7, 2008 Feb. | MEDLINE

Conteúdo principal 1 Busca 2 Rodapé 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional da BVS

Informação e Conhecimento para a Saúde

Localizar descritor de assunto Busca Avançada EVID@Easy

High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.

Hetherington, Crispin J D; Chang, Lan-Yun Shery; Haigh, Sarah; Nellist, Peter D; Gontard, Lionel Cervera; Dunin-Borkowski, Rafal E; Kirkland, Angus I.

Afiliação

Hetherington CJ; Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK.

Microsc Microanal ; 14(1): 60-7, 2008 Feb.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18171500

Adicionar na Minha BVS

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido País de publicação: Reino Unido

Adicionar na Minha BVS

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido País de publicação: Reino Unido