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Amplitude-integrated electroencephalography in the NICU: frequent artifacts in premature infants may limit its utility as a monitoring device.
Suk, Debbie; Krauss, Alfred N; Engel, Murray; Perlman, Jeffrey M.
Afiliação
  • Suk D; Department of Pediatrics, Weill Cornell Medical College of Cornell University, 525 E 68th St, Suite N-506, New York, NY 10065, USA.
Pediatrics ; 123(2): e328-32, 2009 Feb.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19153165
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Recém-Nascido Prematuro / Unidades de Terapia Intensiva Neonatal / Córtex Cerebral / Artefatos / Eletroencefalografia Limite: Humans / Newborn Idioma: En Revista: Pediatrics Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos
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