Characterization of silica-based waveguides with an interferometric optical time-domain reflectometry system using a 1.3-microm-wavelength superluminescent diode.
Opt Lett
; 14(13): 706-8, 1989 Jul 01.
Article
em En
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| ID: mdl-19752943
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Idioma:
En
Revista:
Opt Lett
Ano de publicação:
1989
Tipo de documento:
Article
País de publicação:
Estados Unidos