Intra-unit-cell electronic nematicity of the high-T(c) copper-oxide pseudogap states. | Nature;466(7304): 347-51, 2010 Jul 15. | MEDLINE

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Intra-unit-cell electronic nematicity of the high-T(c) copper-oxide pseudogap states.

Lawler, M J; Fujita, K; Lee, Jhinhwan; Schmidt, A R; Kohsaka, Y; Kim, Chung Koo; Eisaki, H; Uchida, S; Davis, J C; Sethna, J P; Kim, Eun-Ah.

Afiliação

Lawler MJ; Department of Physics, Applied Physics and Astronomy, Binghamton University, Binghamton, New York 13902-6000, USA.

Nature ; 466(7304): 347-51, 2010 Jul 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20631795

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nature Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Reino Unido

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