Time and frequency domain measurements of solitons in subwavelength silicon waveguides using a cross-correlation technique.

Ding, W; Gorbach, A V; Wadswarth, W J; Knight, J C; Skryabin, D V; Strain, M J; Sorel, M; De La Rue, R M

Ding, W; Gorbach, A V; Wadswarth, W J; Knight, J C; Skryabin, D V; Strain, M J; Sorel, M; De La Rue, R M.

Afiliação

Ding W; Centre for Photonics and Photonic Materials, Department of Physics, University of Bath, Bath BA2 7AY, United Kingdom. w.ding@bath.ac.uk

Opt Express ; 18(25): 26625-30, 2010 Dec 06.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21165011

Assuntos

Interpretação Estatística de Dados; Modelos Estatísticos; Refratometria/instrumentação; Silício/química; Simulação por Computador; Desenho Assistido por Computador; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Luz; Espalhamento de Radiação; Estatística como Assunto

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Silício / Interpretação Estatística de Dados / Modelos Estatísticos Tipo de estudo: Risk_factors_studies Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido País de publicação: Estados Unidos

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