AFM image reconstruction for deformation measurements by digital image correlation. | Nanotechnology;17(4): 933-9, 2006 Feb 28. | MEDLINE

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AFM image reconstruction for deformation measurements by digital image correlation.

Sun, Yaofeng; Pang, John H L.

Afiliação

Sun Y; School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological University, 639798, Singapore. Singapore Institute of Manufacturing Technology, 71 Nanyang Drive, 638075, Singapore.

Nanotechnology ; 17(4): 933-9, 2006 Feb 28.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21727362

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article País de afiliação: Singapura País de publicação: Reino Unido

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