Capabilities of through-the-substrate microdiffraction: application of Patterson-function direct methods to synchrotron data from polished thin sections. | J Synchrotron Radiat;18(Pt 6): 891-8, 2011 Nov. | MEDLINE

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Capabilities of through-the-substrate microdiffraction: application of Patterson-function direct methods to synchrotron data from polished thin sections.

Rius, Jordi; Labrador, Ana; Crespi, Anna; Frontera, Carlos; Vallcorba, Oriol; Melgarejo, Joan Carles.

Afiliação

Rius J; Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, CSIC, Campus de la UAB, 08193 Bellaterra, Catalonia, Spain. jordi.rius@icmab.es

J Synchrotron Radiat ; 18(Pt 6): 891-8, 2011 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21997914

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Assunto da revista: RADIOLOGIA Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Espanha País de publicação: Estados Unidos

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