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Thickness measurement of insulation coating by NIR spectrometry based on boosting-KPLS.
Hao, Hui-Min; Li, Shi-Wei; Zhang, Wen-Dong; Li, Peng-Wei; Hao, Jun-Yu; Lu, Hai-Ning; Ken, Jia; Zhang, Yong.
Afiliação
  • Hao HM; Micro/Nano System Research Center, Taiyuan University of Technology, Taiyuan 030024, China.
Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi ; 31(8): 2081-5, 2011 Aug.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22007389
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: China País de publicação: China
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