Highly reproducible secondary electron imaging under electron irradiation using high-pass energy filtering in low-voltage scanning electron microscopy.
Microsc Microanal
; 18(2): 385-9, 2012 Apr.
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1
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Idioma:
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Revista:
Microsc Microanal
Ano de publicação:
2012
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Japão
País de publicação:
Reino Unido