Effectiveness of frequency mapping on 28 nm device broken scan chain failures. | Rev Sci Instrum;83(2): 023702, 2012 Feb. | MEDLINE

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Effectiveness of frequency mapping on 28 nm device broken scan chain failures.

Goh, S H; Pan, Yan; You, G F; Chan, Y H; Ran, He; Herrman, Thomas; Heller, Thomas; Lim, Victor S K; Mai, Z H; Lam, Jeffrey; Chua, C M; Chua, W P; Tan, S H.

Afiliação

Goh SH; GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, New Technology Prototyping, Singapore. gohszuhuat@globalfoundries.com

Rev Sci Instrum ; 83(2): 023702, 2012 Feb.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22380094

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Singapura País de publicação: Estados Unidos

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