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Accurate measurement of Atomic Force Microscope cantilever deflection excluding tip-surface contact with application to force calibration.
Slattery, Ashley D; Blanch, Adam J; Quinton, Jamie S; Gibson, Christopher T.
Afiliação
  • Slattery AD; Flinders Centre for NanoScale Science and Technology, School of Chemical and Physical Sciences, Flinders University, Bedford Park South Australia, 5042, Australia.
Ultramicroscopy ; 131: 46-55, 2013 Aug.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23685172
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Austrália País de publicação: Holanda
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