Inner structure detection by optical tomography technology based on feedback of microchip Nd:YAG lasers.

Xu, Chunxin; Zhang, Shulian; Tan, Yidong; Zhao, Shijie

Xu, Chunxin; Zhang, Shulian; Tan, Yidong; Zhao, Shijie.

Afiliação

Xu C; Institute of Opto-Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China.

Opt Express ; 21(10): 11819-26, 2013 May 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23736403

Assuntos

Aumento da Imagem/instrumentação; Lasers; Teste de Materiais/instrumentação; Tomografia Óptica/instrumentação; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Retroalimentação; Miniaturização

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Teste de Materiais / Aumento da Imagem / Tomografia Óptica / Lasers Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: China País de publicação: Estados Unidos

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