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In situ bending of an Au nanowire monitored by micro Laue diffraction.
Leclere, Cédric; Cornelius, Thomas W; Ren, Zhe; Davydok, Anton; Micha, Jean-Sébastien; Robach, Odile; Richter, Gunther; Belliard, Laurent; Thomas, Olivier.
Afiliação
  • Leclere C; Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France.
  • Cornelius TW; Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France.
  • Ren Z; Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France.
  • Davydok A; Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France.
  • Micha JS; CEA, INAC, SP2M/NRS, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France.
  • Robach O; CEA, INAC, SP2M/NRS, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France.
  • Richter G; Max Plank Institute for Intelligent Systems, Heisenbergstrasse 3, 70569 Stuttgart, Germany.
  • Belliard L; Université Pierre et Marie Curie, CNRS, Institut des Nanosciences de Paris UMR7588, 4 place Jussieu, 75005 Paris, France.
  • Thomas O; Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France.
J Appl Crystallogr ; 48(Pt 1): 291-296, 2015 Feb 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26089751
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Appl Crystallogr Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article País de afiliação: França
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