E/N effects on K0 values revealed by high precision measurements under low field conditions.

Hauck, Brian C; Siems, William F; Harden, Charles S; McHugh, Vincent M; Hill, Herbert H

Hauck, Brian C; Siems, William F; Harden, Charles S; McHugh, Vincent M; Hill, Herbert H.

Afiliação

Hauck BC; Department of Chemistry, Washington State University, 305 Fulmer Hall, Pullman, Washington 99164, USA.
Siems WF; Department of Chemistry, Washington State University, 305 Fulmer Hall, Pullman, Washington 99164, USA.
Harden CS; LEIDOS, US Army ECBC Operations, P.O. Box 68, Gunpowder, Maryland 21010, USA.
McHugh VM; U.S. Army Edgewood Chemical Biological Center, Aberdeen Proving Ground, Maryland 21010, USA.
Hill HH; Department of Chemistry, Washington State University, 305 Fulmer Hall, Pullman, Washington 99164, USA.

Rev Sci Instrum ; 87(7): 075104, 2016 Jul.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27475592

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos

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