Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals. Corrigendum.

Honkanen, Ari Pekka; Verbeni, Roberto; Simonelli, Laura; Moretti Sala, Marco; Monaco, Giulio; Huotari, Simo

Honkanen, Ari Pekka; Verbeni, Roberto; Simonelli, Laura; Moretti Sala, Marco; Monaco, Giulio; Huotari, Simo.

Afiliação

Honkanen AP; Department of Physics, PO Box 64, FI-00014 Helsinki, Finland.
Verbeni R; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France.
Simonelli L; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France.
Moretti Sala M; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France.
Monaco G; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France.
Huotari S; Department of Physics, PO Box 64, FI-00014 Helsinki, Finland.

J Synchrotron Radiat ; 24(Pt 2): 545-546, 2017 03 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28244452

Palavras-chave

bent crystals; high-energy-resolution analysers; inelastic X-ray scattering

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Assunto da revista: RADIOLOGIA Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: Finlândia País de publicação: Estados Unidos

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