Your browser doesn't support javascript.
loading
Charge transfer quantification in a SnOx/CuPc semiconductor heterostructure: investigation of buried interface energy structure by photoelectron spectroscopies.
Krzywiecki, Maciej; Grzadziel, Lucyna; Sarfraz, Adnan; Erbe, Andreas.
Afiliação
  • Krzywiecki M; Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Str. 1, 40237 Düsseldorf, Germany. Maciej.Krzywiecki@polsl.pl.
Phys Chem Chem Phys ; 19(19): 11816-11824, 2017 May 17.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28470285

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Chem Chem Phys Assunto da revista: BIOFISICA / QUIMICA Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha País de publicação: Reino Unido

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Chem Chem Phys Assunto da revista: BIOFISICA / QUIMICA Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha País de publicação: Reino Unido