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New Insights into Mechanism of Surface Reactions of ZnO Nanorods During Electrons Beam Irradiation.
Cho, Youngseung; Ji, Hyunjin; Kim, Hyoungsub; Yoon, Jinsuop; Choi, Byoungdeog.
Afiliação
  • Cho Y; DRAM Technology Development Team, Semiconductor Research Center, Samsung Electronics Co., Hwaseong 18448, Republic of Korea.
  • Ji H; Department of Energy Science, Sungkyunkwan University, Suwon 16419, Republic of Korea.
  • Kim H; DRAM Process Architecture Team, Samsung Electronics Co., Hwasung, 18448, Republic of Korea.
  • Yoon J; DRAM Process Architecture Team, Samsung Electronics Co., Hwasung, 18448, Republic of Korea.
  • Choi B; College of Information and Communication Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon 16419, Republic of Korea.
J Nanosci Nanotechnol ; 18(9): 5996-6000, 2018 09 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-29677731
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article País de publicação: Estados Unidos
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