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Optically coupled methods for microwave impedance microscopy.
Johnston, Scott R; Ma, Eric Yue; Shen, Zhi-Xun.
Afiliação
  • Johnston SR; Department of Applied Physics, Stanford University, Stanford, California 94305, USA.
  • Ma EY; Department of Applied Physics, Stanford University, Stanford, California 94305, USA.
  • Shen ZX; Department of Applied Physics, Stanford University, Stanford, California 94305, USA.
Rev Sci Instrum ; 89(4): 043703, 2018 Apr.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-29716321
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos
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