Mapping of Quantitative Trait Loci for Leaf Rust Resistance in the Wheat Population Ning7840 × Clark.

Li, Chunlian; Wang, Zhonghua; Li, Chunxin; Bowden, Robert; Bai, Guihua; Li, Chunlian; Li, Chunxin; Su, Zhenqi; Carver, Brett F

Li, Chunlian; Wang, Zhonghua; Li, Chunxin; Bowden, Robert; Bai, Guihua; Li, Chunlian; Li, Chunxin; Su, Zhenqi; Carver, Brett F.

Afiliação

Li C; College of Agronomy, Northwest A&F University, Yangling, Shaanxi, China.
Wang Z; College of Agronomy, Northwest A&F University, Yangling, Shaanxi, China.
Li C; Wheat Institute, Henan Academy of Agricultural Science, Zhengzhou, 450002, China.
Bowden R; Hard Winter Wheat Genetics Research Unit, USDA-ARS, Manhattan, KS.
Bai G; Hard Winter Wheat Genetics Research Unit, USDA-ARS, Manhattan, KS.
Li C; Agronomy Department, Kansas State University, Manhattan, KS.
Li C; Agronomy Department, Kansas State University, Manhattan, KS.
Su Z; Agronomy Department, Kansas State University, Manhattan, KS.
Carver BF; Department of Plant and Soil Sciences, Oklahoma State University, Stillwater, OK 74078.

Plant Dis ; 101(12): 1974-1979, 2017 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30677381

Assuntos

Resistência à Doença; Locos de Características Quantitativas; Triticum; Mapeamento Cromossômico; Resistência à Doença/genética; Doenças das Plantas/genética; Triticum/genética; Triticum/microbiologia

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Triticum / Locos de Características Quantitativas / Resistência à Doença Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Plant Dis Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: China País de publicação: Estados Unidos

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