Thermal vulnerability detection in integrated electronic and photonic circuits using infrared thermography.
Appl Opt
; 59(17): E97-E106, 2020 Jun 10.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-32543519
Texto completo:
1
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01-internacional
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MEDLINE
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
/
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Ano de publicação:
2020
Tipo de documento:
Article
País de publicação:
Estados Unidos