Cross-field electron diffusion due to the coupling of drift-driven microinstabilities. | Phys Rev E;102(2-1): 023202, 2020 Aug. | MEDLINE

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Cross-field electron diffusion due to the coupling of drift-driven microinstabilities.

Hara, Kentaro; Tsikata, Sedina.

Afiliação

Hara K; Department of Aeronautics and Astronautics, 496 Lomita Mall, Stanford University, Stanford, California 94305, USA.
Tsikata S; ICARE UPR 3021, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Orléans, France.

Phys Rev E ; 102(2-1): 023202, 2020 Aug.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32942351

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev E Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos

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