Your browser doesn't support javascript.
loading
Machine vision-driven automatic recognition of particle size and morphology in SEM images.
Kim, Hyojin; Han, Jinkyu; Han, T Yong-Jin.
Afiliação
  • Kim H; Center for Applied Scientific Computing, Lawrence Livermore National Laboratory, USA. hkim@llnl.gov.
  • Han J; Materials Science Division, Lawrence Livermore National Laboratory, USA. han5@llnl.gov.
  • Han TY; Materials Science Division, Lawrence Livermore National Laboratory, USA. han5@llnl.gov.
Nanoscale ; 12(37): 19461-19469, 2020 Oct 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32960204

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Reino Unido

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Reino Unido