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Data analysis for characterization of IG110 and A3 by X-Ray diffraction and Raman spectroscopy.
Wu, Huali; Gakhar, Ruchi; Chen, Allen; Zhou, Zhou; Scarlat, Raluca O.
Afiliação
  • Wu H; Department of Mechanical Engineering, Virginia Polytechnic Institute and State University, Blacksburg, VA USA.
  • Gakhar R; Idaho National Laboratory, 2525 Fremont Ave., Idaho Falls, ID USA.
  • Chen A; Department of Engineering Physics, University of Wisconsin-Madison, Madison WI USA.
  • Zhou Z; School of Physics, Sun Yat-sen University, China.
  • Scarlat RO; Nuclear Engineering Department, University of California Berkeley, Berkeley, CA USA.
Data Brief ; 32: 106193, 2020 Oct.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32984453
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Data Brief Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article País de publicação: Holanda
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