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Refractive index of ZnO ultrathin films alternated with Al2O3 in multilayer heterostructures.
López-Medina, J; Carvalho, William O F; Vazquez-Arce, J; Moncada-Villa, E; Oliveira, Osvaldo N; Farías, M H; Tiznado, H; Mejía-Salazar, J R.
Afiliação
  • López-Medina J; CONACYT - Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM. Km 107 Carretera Tijuana-Ensenada s/n. B.C., C.P. 22800, México.
  • Carvalho WOF; National Institute of Telecommunications (Inatel), 37540-000, Santa Rita do Sapucaí, MG, Brazil.
  • Vazquez-Arce J; Centro de Investigación Científica y Educación Superior de Ensenada-CICESE. Ensenada, 22860, México.
  • Moncada-Villa E; Escuela de Física, Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia, Avenida Central del Norte 39-115, Tunja, Colombia.
  • Oliveira ON; Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, CP 369, 13560-970, São Carlos, SP, Brazil.
  • Farías MH; Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Nanociencias y Nanotecnología, Km 107 Carretera Tijuana-Ensenada s/n, Ensenada, B.C., C.P. 22800, México.
  • Tiznado H; Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Nanociencias y Nanotecnología, Km 107 Carretera Tijuana-Ensenada s/n, Ensenada, B.C., C.P. 22800, México.
  • Mejía-Salazar JR; National Institute of Telecommunications (Inatel), 37540-000, Santa Rita do Sapucaí, MG, Brazil.
Nanotechnology ; 31(50): 505715, 2020 Dec 11.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-33025922
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article País de publicação: Reino Unido
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